膜厚仪-【上海艾时微技术开发有限公司】

"产品或者服务描述

内容：台阶仪、膜厚仪、光谱椭偏仪、薄膜应力仪、四探针测试仪、液体颗粒度仪和纳米红外等

说明：全面介绍公司的业务范围和各类产品，对于每种产品，用通俗易懂的语言描述其功能和用途，避免过多专业术语

实例：上海艾时微技术开发有限公司是由中科院、复旦大学、厦门大学、华东理工大学等高校专家团队支持的，由多位半导体、科研领域背景的资深技术人员创立，公司秉承“专业、提升、沟通”的理念，聚焦于表面形貌及力学量测，膜厚及电性量测，缺陷及颗粒检测和成分分析四大领域，立志为科研及半导体领域贡献自己的力量。​公司主要产品包括台阶仪、膜厚仪、光谱椭偏仪、薄膜应力仪、四探针测试仪、液体颗粒度仪和纳米红外等。台阶仪主要用于测量薄膜厚度、表面形貌、台阶、应力及粗糙度测量；膜厚仪主要用于各类半导体薄膜的反射率和膜厚测量；四探针测试仪用于测试半导体薄膜或金属薄膜的方块电阻和电阻率；光谱椭偏仪用于测量各类薄膜的光学常数n&k，如折射率和消光系数；薄膜应力仪用于测量半导体CVD/PVD镀膜的Bow和应力；液体颗粒度仪用于检测电子化学品和光刻胶中的颗粒数量；纳米红外用于纳米尺度上的化学信息成像。主要应用领域为光电、半导体、封装、研发和质量控制等。"

如需确认具体规格、货期与报价，欢迎联系：上海艾时微技术开发有限公司 16621050624，地址：中国(上海)自由贸易试验区临港新片区宏祥北路83弄1-42号20幢118室。我们将根据实际需求提供选型建议与供货方案，具体参数以实物为准。