深圳市易捷测试技术有限公司

深圳市易捷测试技术有限公司，(品牌GBITEST)，是一家致力于提供半导体测试系统集成的高科技服务公司。主要业务包括提供各式探针台系统、自主研发半导体测试软件、探针台升级改造服务，异构芯片测试系统、单模块高低温FT测试系统等，可满足实验室研发和晶圆厂量产的各式需求。十几年来，公司一直专注于半导体测试领域，积累了丰富的实操经验，赢得了行业口碑，专业的系统集成方案广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化buring、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS，SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域。公司现已与多家国内外知名半导体测试设备厂商长期合作,携手Keysight、 Maury Microwave、 MPI、TSK、HANWA、STAr等设备厂商，为用户提供半导体测试系统解决方案。

"型号：HED-G5000 中文名：全自动静电放电及闩锁效应测试机 简介：HED-G5000具备模拟人体放电模式（Human-Body Model，HBM）和机器放电模式（Machine Model，MM）的能力，以测试和评估封装级半导体元器件的抗ESD能力及等级，同时还支持闩锁测试（Latch-up）。 特点： 支持2048个测试通道； 模块化设计，允许在客户现场完成测试通道拓展升级； 特殊的接地设计带来超低的寄生电容，符合ANSI/ESDA/JEDEC JS-001规范文件对于低寄生电容设备的要求； 满足所有静电测试标准，JEDEC ，ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 ，AEC，MIL-STD-883，GJB 等； "

半导体测试领域 深圳市易捷测试技术有限公司在半导体测试领域提供的解决方案，包括半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备。其服务涵盖WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、光耦合测试等，特别在5G通信、化合物半导体、AI CPO和CPU等芯片测试方面具有技术优势。 射频微波测量领域 公司专注于射频和微波测量系统集成，提供矢量分析仪、探针台系统等专业设备。其解决方案广泛应用于射频毫米波集成电路测试、太赫兹技术研究等领域，服务对象包括通信设备制造商和科研院所。 光电与光学传感测试领域 易捷测试在光电器件测试、硅光测试、CIS、SPAD、激光雷达芯片测试等方面具有丰富经验，提供光学影像感测系统、量子效率光学检测设备等专业解决方案，服务于光电芯片研发和光学传感研究机构。 可靠性测试与失效分析领域 公司提供完整的ESD/CDM/TLP测试系统解决方案，同时提供完整的集成电路晶圆级和封装级可靠性测试相关测试解决方案（如：载片WLR测试（HCI/NBTI/PBTI/TDDB/EM），载片老化测试、包括晶圆级失效分析系统，）帮助客户进行器件可靠性验证和失效机理研究。其服务已应用于车规电子、家电芯片等可靠性要求高的领域。 科研与教育领域 易捷测试与多所高校和研究机构合作，为南京大学、浙江大学等提供测试设备和系统集成服务，支持前沿科学研究。其解决方案在量子计算、脑机接口芯片等新兴技术研究中发挥重要作用。 军工与航空航天领域 公司服务涵盖抗辐照环境测试、雷达和通信对抗测试等特殊应用场景，为国防科研单位和航空航天企业提供高可靠性测试解决方案。

科研院所，大学、研究所、半导体生产工厂（FAB厂）、半导体设计公司、科技大企业（华为，张家港集成电路中心、智能家电创新中心等）