上海思长约光学仪器有限公司创立于 2009 年，深耕精密光学领域 15 年，专注半导体量测与缺陷检测设备研发、制造与销售，是国内具备全链路自研能力的国产量测装备厂商。 公司产品面向半导体晶圆制造、IC 封装、LED 封装领域，打造覆盖晶圆形貌、套刻精度、关键尺寸、薄膜厚度、晶圆缺陷、原子力显微检测的全系列精密量测装备。核心产品包含 Auto wafer-3D 原子力显微镜、WGT300-WX 晶圆形貌量测仪、AX-D200I X 射线衍射量测设备、YI-7000 Overlay 套刻精度测量设备、HYC-100 OCD 关键尺寸测量仪、3000SR-III 晶圆缺陷检测仪、ZP6/ZP7 无图缺陷检测设备、HY-120 薄膜厚度测量…
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